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微组装设备、 CT检测设备、 颗粒碰撞噪声检测仪、 WEETECH线缆测试仪、 装置多余物检测、 X、 RAY半导体检测、 线束线缆检测、 超声波扫描显微镜、 原GE、 PHOENIX、 X射线检测机、 DPA试验、 工业CT、 PIND、 C、 SAM、

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北京朗时云帆科技有限公司致力于帮助电力、工业、科研和基础设施等领域客户提供技术、产品和解决方案的厂家，主营产品有微组装设备、CT检测设备、颗粒碰撞噪声检测仪、WEETECH线缆测试仪、装置多余物检测、X-RAY半导体检测、线束线缆检测、超声波扫描显微镜、原GEPHOENIXX射线检测机、DPA试验、工业CT、PIND、C-SAM等，业务范围覆盖北京、江苏、浙江、山东、河南、湖北、四川、陕西等地

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北 京 朗 时 云 帆 科 技 有 限 公 司 北 京 朗 时 云 帆 科 技 有 限 公 司 首 页 关 于 我 们 行 业 应 用 产 品 中 心 实 验 室 新 闻 中 心 联 系 我 们 公 司 简 介 联 系 我 们 简 述 x 射 线 检 测 设 备 （ p h o e n i x | x r a y ） C T 检 测 材 料 应 用 S e n s o f a r 案 例 研 究 请 查 收 采 用 机 械 铸 造 技 术 ， 轻 松 测 量 陶 瓷 层 几 何 参 数 如 何 进 行 干 式 电 解 质 抛 光 工 艺 的 表 征 测 量 ？ 刀 刃 半 径 与 边 缘 粗 糙 度 精 确 测 量 增 材 制 造 工 艺 中 的 形 状 与 表 面 纹 理 变 化 脉 冲 激 光 加 工 ： 提 高 汽 车 发 动 机 缸 套 纹 理 表 面 摩 擦 性 能 的 关 键 新 型 测 量 激 光 表 面 纹 理 方 法 摩 擦 学 涂 层 表 面 特 性 ： 磨 损 性 能 、 膜 厚 及 粗 糙 度 的 研 究 微 流 体 应 用 中 激 光 加 工 微 通 道 的 测 量 方 法 与 挑 战 S w i d e 3 D 轮 廓 测 量 仪 ： 激 光 雕 刻 钢 件 的 “ 高 速 测 量 专 家 ” S e n S o F a r 应 用 示 例 C T 检 测 电 池 应 用 超 声 波 影 像 扫 描 系 统 L S 1 0 1 5 I 超 声 波 检 测 技 术 概 述 超 声 波 扫 描 显 微 镜 在 线 P C B A 光 学 检 测 系 统 在 线 P C B A 光 学 检 测 系 统 产 品 类 型 技 术 资 料 库 产 品 品 牌   线 缆 加 工 测 试   上 线 送 线 设 备 全 自 动 裁 线 机 收 线 机   剥 线 全 自 动 切 剥 机   组 装 压 接   检 测 电 缆 检 测   W e e T e c h W 4 5 4   微 组 装 设 备 工 艺   平 行 封 焊 机   键 合 机   储 能 焊 机   W T 产 品 — — X 射 线 检 测   2 D 工 业 C T 系 统 p h o e n i x x | a m i n e r p h o e n i x m i c r o m e | x n e o p h o e n i x n a n o m e | x n e o   3 D 工 业 C T 系 统 p h o e n i x v | t o m e | x c 系 列 p h o e n i x v | t o m e | x m p h o e n i x v | t o m e | x L 3 0 0 p h o e n i x v | t o m e | x L 4 5 0 S e i f e r t b l a d e | l i n e s p e e d | s c a n C T 6 4 S e i f e r t x | b l a d e 工 业 纳 米 C T n a n o t o m s   S A T 产 品 — — 超 声 扫 描 检 测   F i n e S A T   P I N D 产 品 — — 多 余 物 检 测   D Z J C I I I 型 微 粒 碰 撞 噪 声 多 余 物 自 动 检 测 系 统   D Z J C I I I U 5 6 /   D Z J C I I I M 5 6 型 五 晶 体 六 通 道 微 粒 碰 撞 噪 声 多 余 物 自 动 检 测 系 统   系 列 化 密 封 电 子 设 备 多 余 物 自 动 检 测 系 统   S e n s o f a r 产 品 光 学 显 微 镜   S e n s o f a r 3 D 光 学 轮 廓 仪 （ 共 聚 焦 + 白 光 干 涉 ）   E M C 产 品 — — 辐 射 抗 扰 测 试 系 统   L S Y F 6 1 0 辐 射 抗 扰 测 试 系 统   E M C 电 磁 兼 容 测 试 项 目 简 介   组 合 式 抗 扰 度 测 试 仪   传 导 骚 扰 测 试 方 案   电 力 系 统 E M C 实 验 室 的 建 设   D i e n e r 产 品 — — 等 离 子 清 洗   D i e n e r A T T O   D i e n e r P I C O   D i e n e r F E M T O A   D i e n e r F E M T O P C C E   D i e n e r N A N O P C C E   D i e n e r T e t r a 3 0 / 4 5 / 1 0 0 / 1 5 0   H E C 产 品 — — 电 容 器 件   H E C 陶 瓷 电 容   H E C 金 属 化 薄 膜 电 容   H E C 水 冷 式 电 容   H E C 充 油 式 高 压 电 容 会 员 登 录 记 住 我 （ 两 周 内 免 登 录 ） 登 录 免 费 注 册 > 超 声 波 扫 描 检 测 设 备 　 　 通 过 组 合 频 率 达 到 5 0 0 M H z 的 灵 敏 度 组 件 、 扫 描 仪 与 日 立 开 发 的 高 分 辨 率 探 头 ， 可 以 检 测 的 间 距 为 0 . 5 μ m 。 进 一 步 波 形 分 析 、 测 量 、 剥 离 判 定 、 深 度 信 息 等 分 析 软 件 。 过 采 用 扫 描 仪 予 以 及 新 型 图 像 处 理 单 元 ， 扫 描 速 度 1 0 0 0 m m / s 的 扫 描 仪 。 　 　 重 视 使 用 的 便 利 性 和 安 全 性 ， 可 以 装 卸 两 侧 的 大 型 窗 、 l e d 照 明 、 探 头 识 别 功 能 ( 根 据 不 同 的 机 型 作 为 标 准 配 置 ） 、 电 源 开 关 的 保 护 盖 、 前 面 透 明 面 板 ， 并 设 置 有 传 感 器 等 。 X R a y 检 测 设 备 P h o e n i x v | t o m e | x L 3 0 0 是 一 款 多 功 能 高 分 辨 率 微 焦 点 X 射 线 检 测 系 统 ， 具 有 2 D 和 3 D 计 算 机 断 层 扫 描 （ 微 米 C T ） 以 及 2 D 无 损 检 测 功 能 。 系 统 配 备 了 3 0 0 k V / 5 0 0 W 的 微 焦 点 射 线 源 ， 以 及 承 载 样 品 重 量 达 5 0 k g 和 直 径 达 5 0 0 m m 的 超 高 精 度 扫 描 平 台 。 该 系 统 为 复 合 材 料 、 铸 件 和 精 密 零 部 件 （ 例 如 ： 注 塑 喷 嘴 和 涡 轮 叶 片 ） 的 孔 隙 分 析 、 裂 纹 检 测 和 3 D 测 量 （ 例 如 ： 首 件 样 品 检 测 ） 提 供 了 一 个 解 决 方 案 。 颗 粒 碰 撞 噪 声 检 测 仪         P I N D （ P a r t i c l e I m p a c t N o i s e D e t e c t i o n , T R A N S M S T     中 文 名 ： 颗 粒 碰 撞 噪 声 检 测 ) 用 于 电 子 元 器 件 封 装 后 , 对 器 件 内 多 余 粒 子 碰 撞 噪 声 检 测 试 验 , 目 的 在 于 检 测 器 件 封 装 腔 体 内 存 在 的 自 由 粒 子 , 是 一 种 非 破 坏 性 实 验 。 用 来 测 试 电 器 零 件 从 而 提 高 电 器 零 件 的 可 靠 性 。 P I N D 常 用 于 检 测 集 成 电 路 、 晶 体 管 、 电 容 器 、 航 空 / 航 天 / 军 事 领 域 的 继 电 器 等 电 子 元 器 件 封 装 内 的 多 余 物 松 散 颗 粒 。 本 P I N D 试 验 根 据 被 测 器 件 类 型 不 同 依 据 不 同 的 国 军 标 标 准 。 如 ： 半 导 体 类 器 件 常 采 用 G J B 5 4 8 B 标 准 （ 根 据 D U T 的 腔 体 尺 寸 选 择 对 应 的 震 动 频 率 ， 冲 击 脉 冲 峰 值 为 9 8 0 0 m / s ² ± 1 9 6 0 m / s ² ） ； 继 电 器 类 器 件 常 采 用 G J B 6 5 B 标 准 （ 最 佳 轴 线 方 向 振 动 频 率 ： 2 7 H z ， 4 0 H z 和 1 0 0 H z ， 振 幅 ： 4 9 m / s ² ， 冲 击 等 级 ： 1 9 6 0 m / s ² 最 大 1 m s ） 。       目 前 ， 由 于 大 部 分 元 器 件 生 产 工 艺 达 不 到 理 想 水 平 ， 所 以 多 余 物 问 题 逐 渐 被 成 为 备 受 关 注 的 问 题 。 由 此 ， 不 得 不 引 入 一 道 筛 选 工 序 — — P I N D 试 验 。 S e n s o f a r 3 D 光 学 轮 廓 仪 （ 共 聚 焦 + 白 光 干 涉 ）     S e n s o f a r 研 发 的 n e o x 光 学 轮 廓 仪 ， 其 共 聚 焦 部 分 的 主 要 优 点 是 有 着 发 光 效 率 的 明 硬 件 和 高 对 比 度 算 法 。 这 些 特 点 使 系 统 成 为 测 量 有 着 陡 峭 斜 面 、 粗 糙 的 、 反 光 表 面 和 含 有 种 材 料 样 品 的 理 想 设 备 。 高 品 质 干 涉 光 学 系 统 和 集 成 压 电 扫 描 器 是 干 涉 轮 廓 仪 部 分 的 关 键 。 这 项 技 术 对 于 测 量 非 常 光 滑 适 度 粗 糙 的 表 面 比 较 理 想 。 这 些 技 术 的 组 合 为 n e o x 轮 廓 仪 提 的 应 用 领 域 。 S e n s o f a r 3 D 光 学 轮 廓 仪 可 用 于 标 准 的 明 场 彩 色 显 微 成 像 、 共 焦 成 像 、 三 维 共 焦 建 模 、 P S I 、 V S I 及 高 分 辨 率 薄 膜 厚 度 测 量 。 没 有 移 动 部 件 使 其 拥 有 坚 固 而 紧 凑 的 设 计 ， 同 时 也 使 得 该 探 头 适 合 很 多 O E M 应 用 。 简 单 的 、 符 合 人 体 工 程 学 的 软 件 界 面 使 用 户 获 得 非 常 快 的 测 量 速 度 ， 只 需 方 便 地 切 换 适 当 的 物 镜 ， 调 焦 ， 并 选 择 适 当 的 采 集 模 式 即 可 。 关 于 我 们           北 京 朗 时 云 帆 科 技 有 限 公 司 成 立 于 2 0 1 0 年 ， 致 力 于 帮 助 电 力 、 工 业 、 科 研 和 基 础 设 施 等 领 域 客 户 提 高 业 绩 ， 提 供 技 术 、 产 品 和 解 决 方 案 。 公 司 同 国 内 众 多 高 校 和 科 研 单 位 有 多 次 深 入 合 作 ， 以 一 流 的 产 品 解 决 方 案 赢 得 用 户 的 认 可 。       公 司 为 用 户 提 供 测 试 方 案 、 设 备 、 系 统 软 件 等 服 务 。 公 司 以 技 术 为 先 导 ， 以 产 品 为 核 心 ， 发 挥 人 才 优 势 ， 为 用 户 提 供 咨 询 、 系 统 集 成 及 整 体 解 决 方 案 服 务 ， 长 期 积 极 致 力 于 科 研 、 政 府 、 安 全 、 电 信 、 电 力 、 制 造 等 众 多 领 域 信 息 化 建 设 。       我 们 对 客 户 和 合 作 伙 伴 坚 守 公 平 、 诚 实 、 守 信 的 专 业 信 条 ； 我 们 为 员 工 营 造 忠 诚 、 坦 诚 、 平 等 、 开 放 、 务 实 的 工 作 氛 围 。       公 司 主 营 产 品 有 微 组 装 设 备 、 C T 检 测 设 备 、 颗 粒 碰 撞 噪 声 检 测 仪 、 W E E T E C H 线 缆 测 试 仪 、 装 置 多 余 物 检 测 、 X R A Y 半 导 体 检 测 、 线 束 线 缆 检 测 、 超 声 波 扫 描 显 微 镜 、 原 G E P H O E N I X X 射 线 检 测 机 、 D P A 试 验 、 工 业 C T 、 P I N D 、 C S A M 等 ， 业 务 范 围 覆 盖 北 京 、 江 苏 、 浙 江 、 山 东 、 河 南 、 湖 北 、 四 川 、 陕 西 等 全 国 各 地 。 产 品 展 示 原 G E p h o e n i x X 射 线 检 测 机 W E E T E C H 线 缆 测 试 仪 颗 粒 碰 撞 噪 声 检 测 仪 P I N D X r a y 半 导 体 检 测 C T 检 测 设 备 超 声 波 扫 描 显 微 镜 微 组 装 设 备 新 闻 动 态 更 多 > > 半 导 体 水 汽 含 量 检 测 设 备 的 优 势 特 性           当 可 靠 性 分 析 成 为 电 子 器 件 的 重 要 指 标 ， 半 导 体 水 汽 含 量 检 测 也 就 应 运 而 生 ， 它 通 过 四 级 质 谱 分 析 仪 对 气 体 进 行 识 别 ， 并 分 析 其 浓 度 ， 具 有 很 高 的 灵 敏 度 和 分 辨 率 ， 真 空 腔 体 也 保 证 了 检 测 数 据 的 可 靠 性 。 同 时 ， 可 对 微 电 子 元 件 和 多 芯 片 模 块 、 电 子 元 器 件 、 光 纤 设 备 和 传 感 器 、 起 搏 器 和 其 他 医 疗 设 备 、 大 型 电 子 设 备 和 单 元 ， 陶 瓷 双 列 直 插 式 器 件 ， 扁 平 封 装 和 T O 封 装 等 多 种 模 块 进 行 检 测 ， 增 大 了 检 测 范 围 。 半 导 体 水 汽 含 量 检 测 ， 让 产 品 更 可 靠 密 封 腔 体 内 部 的 水 汽 是 造 成 电 子 元 器 件 失 效 的 主 要 原 因 之 一 ， 而 军 标 规 定 在 1 0 0 ℃ 下 的 内 部 水 汽 含 量 不 得 超 过 5 0 0 0 p p m 。 长 期 研 究 发 现 ， 符 合 军 用 标 准 的 密 封 元 器 件 ， 在 几 个 月 的 贮 存 期 后 ， 其 内 部 的 水 汽 含 量 普 遍 可 能 超 标 ， 从 而 影 响 电 子 元 器 件 的 可 靠 性 ， 进 而 影 响 到 整 机 设 备 长 期 使 用 的 可 靠 性 。 所 以 ， 对 于 电 子 元 器 件 内 的 水 汽 含 量 检 测 就 显 得 非 常 重 要 。 半 导 体 水 汽 含 量 检 测 仪 专 为 密 封 包 装 、 空 腔 和 其 他 外 壳 内 所 含 水 汽 等 的 定 量 分 析 而 设 . . . 工 业 C T 检 测 服 务 在 航 空 航 天 行 业 的 应 用 工 业 C T 技 术 ， 是 根 据 X 射 线 等 穿 透 物 体 后 得 到 的 投 影 数 据 ， 由 相 应 的 数 学 算 法 ， 再 由 计 算 机 处 理 ， 将 物 体 特 定 层 面 上 的 二 维 图 像 进 行 建 模 重 建 ， 并 依 据 重 建 后 的 二 维 图 像 构 成 三 维 图 像 的 技 术 ， 它 主 要 包 括 射 线 源 、 机 械 扫 描 运 动 系 统 、 探 测 器 和 计 算 机 系 统 等 部 件 。 在 航 空 航 天 领 域 ， 对 零 部 件 的 质 量 要 求 更 高 ， 因 此 工 业 C T 检 测 服 务 技 术 的 应 用 也 显 得 尤 为 重 要 ， 其 中 包 括 ： ① 材 料 内 部 缺 陷 的 检 测 ； ② 对 零 部 件 结 构 尺 寸 进 行 测 量 ； ③ 对 问 题 产 . . . 工 业 C T 检 测 服 务 应 用 需 求 工 业 C T 检 测 服 务 应 用 需 求 随 着 工 业 技 术 的 不 段 发 展 ， X 射 线 和 C T 的 需 求 也 在 无 损 检 测 区 域 不 断 扩 大 。 使 用 工 业 C T ， 可 以 从 3 D 视 角 对 产 品 进 行 无 损 检 测 ， 从 而 完 成 产 品 内 部 结 构 的 分 析 。 同 时 ， 我 们 的 微 焦 点 系 统 可 以 为 用 户 提 供 更 加 详 细 且 准 确 的 视 图 ， 兼 容 更 精 密 和 更 微 小 的 器 件 ， 同 时 保 证 检 测 结 果 的 可 靠 性 。 如 果 您 有 工 业 C T 检 测 服 务 的 需 求 和 应 用 ， 我 司 将 竭 诚 为 您 提 供 设 备 和 服 务 ， 以 满 足 您 的 检 测 需 求 。 C T 检 测 设 备 介 绍 在 中 国 ， 也 会 逐 渐 工 业 无 损 检 测 领 域 的 技 术 应 用 。 C T 检 测 设 备 进 一 步 发 展 已 成 为 重 要 的 先 进 无 损 检 测 技 术 。 1 . 无 损 检 测 范 围 ： I C T 测 试 对 象 。 若 能 传 递 钢 的 厚 度 ， 检 测 工 件 的 大 旋 转 直 径 ， 检 测 工 件 的 高 度 或 长 度 ， 检 测 工 件 的 重 量 。 2 . 使 用 的 射 线 源 ： X 辐 射 能 量 、 工 作 电 压 、 工 作 电 流 和 聚 焦 尺 寸 。 3 . I C T 扫 描 方 法 ： 采 用 哪 种 扫 描 方 法 ， 是 否 具 有 数 字 射 线 检 测 或 实 时 成 像 等 功 能 。 4 . 扫 描 探 测 时 间 ： 指 扫 描 断 层 数 据 采 集 时 间 。 5 . 图 像 . . . 超 声 波 扫 描 显 微 镜 的 特 点 尽 管 超 声 波 扫 描 显 微 镜 家 族 中 的 后 起 之 秀 ， 但 由 于 其 自 身 的 许 多 特 殊 优 势 ， 发 展 速 度 非 常 快 。 1 . 仪 器 分 辨 率 高 ， 可 以 通 过 二 次 电 子 图 像 观 察 样 品 表 面 6 n m 采 用 左 右 细 节 L a B 6 . 电 子 枪 可 以 进 一 步 增 加 到 3 n m 。 2 . 仪 器 放 大 范 围 大 ， 可 连 续 调 整 。 因 此 ， 可 以 根 据 需 要 选 择 不 同 大 小 的 视 场 进 行 观 察 。 同 时 ， 在 高 放 大 倍 数 下 ， 还 可 以 获 得 高 亮 度 的 清 晰 图 像 ， 这 是 普 通 透 射 电 子 显 微 镜 难 以 实 现 的 。 3 . 观 察 样 品 的 景 深 和 大 视 场 ， 图 像 具 有 立 体 感 . . . 微 组 装 设 备 的 核 心 工 艺 随 着 小 型 化 、 轻 量 级 、 高 工 作 频 率 、 高 可 靠 性 的 电 子 产 品 继 续 占 据 消 费 者 市 场 ， 电 子 元 件 逐 渐 进 入 高 密 度 、 高 功 能 、 微 型 化 、 多 引 脚 、 间 距 狭 窄 的 发 展 阶 段 ， 对 微 装 配 技 术 的 要 求 越 来 越 高 。 电 子 微 装 配 技 术 是 一 种 新 型 的 电 子 装 配 和 包 装 技 术 。 什 么 是 微 组 装 技 术 ？ 结 合 各 种 先 进 制 造 领 域 的 定 义 和 观 点 ， 微 装 配 技 术 主 要 由 表 面 贴 纸 组 成 （ S M T ） ， 混 合 集 成 电 路 （ H I C ） 技 术 和 多 芯 片 模 块 （ M C M ） 技 术 组 成 。 一 般 来 说 ， 微 装 配 技 术 采 用 高 密 度 多 . . . 超 声 波 扫 描 显 微 镜 了 解 一 下 超 声 波 扫 描 显 微 镜 的 性 能 和 用 途 ： 扫 描 频 率 可 达 2 G 。 扫 描 分 辨 率 0 . 1 微 米 。 扫 描 范 围 为 0 . 2 5 m m * 0 . 2 5 m m 。 超 声 波 扫 描 显 微 镜 是 一 种 非 破 坏 性 检 测 组 件 的 完 整 性 、 内 部 结 构 和 材 料 内 部 状 况 的 仪 器 。 作 为 无 损 检 测 分 析 之 一 ， 可 以 在 不 破 坏 材 料 电 气 性 能 和 保 持 结 构 完 整 性 的 情 况 下 检 测 材 料 。 广 泛 应 用 于 材 料 检 验 ( I Q C ) ， 失 效 分 析 ( F A ) ， 质 量 控 制 ( Q C ) ， 质 量 保 证 和 可 靠 性 ( Q A / R E L ) ， 研 发 ( R & D ) ) 等 领 域 。 可 检 . . . 友 情 链 接 更 多 > >     北 京 朗 时 云 帆 科 技 有 限 公 司 首 页 关 于 我 们 联 系 我 们 留 言 板 © 2 0 1 7 北 京 朗 时 云 帆 科 技 有 限 公 司 版 权 所 有 管 理 登 录 | 京 I C P 备 1 6 0 4 1 6 2 9 号 1 | 本 站 支 持  

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